設備紹介

核磁気共鳴分光装置
(NMR)(JEOL, EC-400)

強力な磁場を用いて分子の化学構造を特定できます。
X線光電子分光装置(XPS)
(Ulvac PHI, Quanum 2000)

X線を照射し試料表面から放出される光電子を分析することで、材料表面の元素組成や原子の結合状態を分析できます
分光エリプソメーター
(Woollam, Alpha-SE)

薄膜の膜厚(1nm～1µm)を測定できます。
フーリエ変換赤外分光光度計
(日本分光, FT/IR-4600)

赤外領域の電磁波の吸収を利用して分子の振動および回転に関する情報を得ることができます。
原子間力顕微鏡
(JPK, NanoWizard3)

材料表面の形状や粗さ、凝着力を測定できます。